Identificación (Search-Match)
Basada en las bases de datos ICDD-PDF2.DAT
y, o, difdata.txt
(libre) del RRUFF Project. Los sub-ficheros reconocidos son: |
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Inorgánicos |
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Materiales superconductores |
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Orgánicos |
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Cementos |
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Minerales |
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Materiales corrosivos |
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Metales y aleaciones |
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Polímeros |
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Fases frecuentes |
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Detergentes |
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NBS (National Bureau Standars) |
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Pigmentos |
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Forenses |
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Farmacéuticos |
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Didácticos |
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ICSD |
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Zeolitas |
- |
Cerámicas |
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Explosivos |
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Fichas antiguas borradas o sustituidas |
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Cuantitativo
Utiliza métodos de mínimos cuadrados lineales
y no lineales sobre el diagrama completo en materiales amorfos
o cristalinos, a partir de difractogramas-estandar experimentales
(En la versión profesional el análisis cuantitativo
puede obtenerse también directamente a partir de la base
de datos PDF2 o RRUFF). |
Análisis complementarios
Búsqueda Booleana, restricciones químicas,
afinamiento automático de la celdilla de las fases identificadas,
grupo espacial, extinciones hkl sistemáticas, eliminación avanzada
de fondo muy eficiente, eliminación del componente Kα2
, interpolación de datos por splines , filtrado de Fourier
y funcionales, FWHM, anchura integrada, asimetría, factor
de forma, tamaño cristalito y "Strain" (Williamson-Hall, Warren-Averbach y Log-Normal distribución). |
Posibilidades gráficas Incluyen registro de imágenes en formato BMP , vectoriales HPGL de alta definición, copia al portapapeles e impresión de hasta cincuenta diagramas simultáneos. Termodifracción y mapeado
(nuevo). |
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La versión XPowder PLUS permite la conexión full duplex para el control de difractómetros PW1710/00. |
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