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Características principales de XPowder
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| Generales |
| Importación y exportación de datos
(Bruker Raw, Philips RD,UDF, Xpert, Cerius GRF, x-y, PLV, etc.). |
| Eliminación automática de fondo. |
| Suavizado de perfiles (funcional o por filtro de Fourier). |
| Interpolación de datos por splines. |
| Eliminación avanzada y clasica (Rachinger) del componente Kα2 (Kα2-stripping). |
| Corrección del error instrumental del ángulo 2θ mediante estándar
interno o armónicos |
| Borrar/Rehacer/Recargar (Undo / redo / reload). |
| Cortar/copiar y exportar ficheros gráficos(BMP, HPGL). Impresión de informes de texto. |
| Fichero de actuaciones (Echo
log file). |
| Adición sustracción y mezcla de difractogramas. |
| Intensidades en escalas aritmética o logarítmicas. |
| Cambio de rendijas automática a fija y viceversa. |
| Cálculo automático o manual de picos y generación de tablas. |
| Presentaciones gráficas
3D y 2D (mapeado) de hasta 50 diagramas simultáneamente.
Termodifracción |
| Zoom, colores, grosor de líneas y otras utilidades gráficas. |
| Control full-duplex de difractómetros PW1710/00 (Solo en la versión PLUS). |
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| Identificación de fases (análisis cualitativo) |
| Identificación automática de fases y comparación gráfica interactiva mediante diagrama de barras en combinación con el la base de datos del ICDD Powder Diffraction File (PDF2). |
| Diagrama de líneas, índices hkl e información completa de las fichas del PDF. |
| Búsqueda Booleana [(Nombre (And, And, And) + Composición química (And, Or, Not] + PDF sub-ficheross + fichas borradas). |
| Afinamiento automático de la celdilla unidad y ajuste gráfico interactivo de los parámetros de red. |
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| Análisis cuantitativo |
| Análisis cuantitativo automático de fases por métodos de mínimos cuadrados de perfil completo y diagramas-patrón experimentales. |
| Solamente en las versiones profesionales: Preciso análisis cuantitativo de fases por Métodos RIR Normalizados y ajustes no lineales de mínimos cuadrados de perfil completo a partir de la base de datos ICDD Powder Diffraction File (PDF2). No es preciso realizar ajustes o curvas patrón previas. Durante el cálculo se afinan sin intervención del usuario la posición, anchura y forma de los picos (model Pseudo Voigt en función de las medidas experimentales de los Factores de Forma) y se tienen en cuenta los factores de absorción de los componentes individuales y de la muestra total. Los resultados se muestran en pantalla de forma automática sin necesidad de usar parametrizaciones
previas, curvas patrón o patrones. La precisión de los resultados obtenidos depende fundamentalmete de la calidad de la fichas PDF2 correspondientes a las fases encontradas.
Original cuantificación de amorfos totales. |
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| Perfiles |
| Cálculo de parámetros de perfil tales como FWMH, factor de forma, asimetría, tamaño cristalito y strain (Williamson-Hall, Warren Averbach), distribución Log-Normal de tamaños de cristalito, área de picos, corrección instrumental, etc. |
| Extracción de componentes parciales del difractograma por métodos de mínimos cuadrados. |
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