Novedades

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Control de difractometro - (12/02/2006)

Analisis cuantitativo de amorfos - (20/12/2005)

Nuevos formatos(X_Pert y Raw) - (28/11/2005)

Registro de perfiles - (24/10/2005)

Tamaño de mosaico y Strain (21/06/05) - (21/06/2005)

Eliminación de K-alpha2(20/06/2005) - (20/06/2005)

Mapeado y termodifracción (20/06/2006)