Novedades

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Control de difractometro - (12/02/2006)

Analisis cuantitativo de amorfos - (20/12/2005)

Nuevos formatos(X_Pert y Raw) - (28/11/2005)

Registro de perfiles - (24/10/2005)

Tamaño de mosaico y Strain (21/06/05) - (21/06/2005)

Eliminación de K-alpha2(20/06/2005) - (20/06/2005)

Mapeado y termodifracción (20/06/2006)

Amorphous compounds quantification

20 de diciembre de 2005. IMPORTANTE: Si se desea cuantificar amorfos junto a fases cristalinas (ya sea a partir de las fichas PDF2 por el Método RIR Normalizado – Chung,1974- o a patrones experimentales) no se debe efectuar sustracción de fondo de los difractogramas. Para la cuantificación de amorfos se recomienda un valor de RIR 0.17 para la mayoría de las paragénesis. De todas formas este valor debe ser ajustado con mayor precisión para cada difractómetro y para cada composición (es afectado por el coeficiente másico de absorción fundamentalmente). La actualización del fichero update.zip (con fecha igual o posterior a hoy) es fundamental para poder efectuar correctamente esta determinación cuantitativa. Para el estudio de perfiles SÍ hay que sustraer fondo previamente en todos los casos.

Fecha:20/12/2005