Novedades

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Control de difractometro - (12/02/2006)

Analisis cuantitativo de amorfos - (20/12/2005)

Nuevos formatos(X_Pert y Raw) - (28/11/2005)

Registro de perfiles - (24/10/2005)

Tamaño de mosaico y Strain (21/06/05) - (21/06/2005)

Eliminación de K-alpha2(20/06/2005) - (20/06/2005)

Mapeado y termodifracción (20/06/2006)

Scanning profiles

1. La versión 2004.04.02 permite registrar con el difractómetro PW1710/00 hasta un máximo de doce perfiles consecutivos. Para ello, seleccione la opción” “perfiles” y se indican los ángulos de inicio y los intervalos a explorar. Los perfiles se registran en sendos archivos (Sample_001.plv, Sample_002.plv, etc) y otro único (Sample.plv). Esta opción se utiliza fundamentalmente en modo estático y con altos tiempos de registro (por ejemplo 2 ó 4 segundos por punto) para análisis de perfil de línea (tamaño de mosaico, strain, etc). Este tipo de configuraciones de registro pueden guardarse con nombres específicos (Muscovit_00L.cnf por ejemplo) con la orden File>Load/Save Setup File. 2. El formato de datos de los ficheros de difractogramas de polvo calculados por el programa “Mercury” es reconocido por XPowder partir de esta versión. Se ha incluido un fichero de ejemplo (pirex.xye).

Fecha:24/10/2005